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基于動態(tài)光散射原理的納米粒度儀的理論基礎(chǔ)是基于動態(tài)光散射原理。納米粒度分析儀的基本測試原理:激光光電倍增管（PMT）放大器/鑒別器數(shù)字相關(guān)器計算機入射透鏡樣品池基于動態(tài)光散射納米粒度分析儀原理基本測試原理圖激光器發(fā)射的激光器激光通過入射光路照射到樣品池中的顆粒上。散射光通過接收光路進入光電探測器，然后由數(shù)字相關(guān)器獲得其光強度的自相關(guān)函數(shù)G時的散射光強度。對于靜止過程，t = 0。根據(jù)高斯光場的Siegert關(guān)系，可以獲得光強度自相關(guān)函數(shù)G的光強度自相關(guān)函數(shù)的值，其通常被稱為基線。它可以在測試中直接測量，該測試是反映整個光學系統(tǒng)的空間相干性的參數(shù)?？臻g相干因子主要由系統(tǒng)的光學性質(zhì)決定。對于單分散粒子系統(tǒng)，存在延遲時間; Γ是線寬（或衰減率），其表達式為：粒子的平移擴散系數(shù)，q為散射矢量，n為溶劑的折射率，θ為散射角。

對于真空中的光波長。對于納米粒度儀的球形顆粒，根據(jù)Stokes-Einstein公式，D與顆粒直徑d具有以下關(guān)系：= 1.3810-23是絕對溫度，η是溶劑粘度，d是顆粒直徑?？梢钥闯鲎韵嚓P(guān)操作的表征和動態(tài)光散射原理的物理意義來測試納米粒子尺寸的理論基礎(chǔ)，在外部條件的條件下，粒徑只是光強度自相關(guān)函數(shù)的線寬。 （衰減率）納米粒度分析器中動態(tài)光散射原理中最關(guān)鍵和最主要的任務是獲得散射光的自相關(guān)函數(shù)。因此，粒度測試方法中的動態(tài)光散射法（DLS）也變?yōu)楣庾酉嚓P(guān)光譜法（PCS）。相關(guān)的動態(tài)光散射技術(shù)是一種常用于處理隨機過程和噪聲理論的方法。