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粒度檢測設(shè)備,高測量準(zhǔn)確性的光敏粒度分析

更新時間:2019-02-13 點(diǎn)擊數(shù):2223

粒度檢測設(shè)備,高測量準(zhǔn)確性的光敏粒度分析

耐克特介紹的這種粒度檢測設(shè)備是光敏粒度分析儀,包括底板、光敏接收探頭、第一抽風(fēng)機(jī)、中心支撐板、粒度孔、第二抽風(fēng)機(jī)、頂板、光敏發(fā)光探頭、待測樣品室、本體、第一觀察室、第二觀察室;光敏接收探頭設(shè)在本體底部中心位置的U型孔內(nèi),中心支撐板的兩端通過緊固螺釘固定在本體內(nèi)部中段位置左右兩側(cè)的內(nèi)壁上,中心支撐板的中心位置設(shè)有容納粒度孔的通孔,粒度孔的中心位置設(shè)有漏斗型通孔,頂板的左側(cè)設(shè)有容納待測樣品室底部與第一觀察室相通的柱形通孔,光敏發(fā)光探頭設(shè)在頂板中心位置的凹槽內(nèi)底部,穿過粒度孔的顆粒會阻擋光線一段時間,進(jìn)而光敏發(fā)光探頭發(fā)出信號,根據(jù)粒度孔尺寸實現(xiàn)待測顆粒的粒度檢測,能夠提高粒度檢測設(shè)備測量的準(zhǔn)確性。


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